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X射線近邊吸收譜儀

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X射線近邊吸收譜作為X射線吸收光譜的核心組成部分，是研究材料局域電子結(jié)構(gòu)、化學(xué)態(tài)及配位環(huán)境的強(qiáng)有力工具，為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計(jì)提供直接依據(jù)。

更新時(shí)間：2025-11-21

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品牌	創(chuàng)譜specreation	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源
能量范圍	4.5-20keV	能量分辨率	0.5-1.5eV(7-9keV,近邊)
X射線光源	1.2-1.6kW閉管	光通量	1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV
單色器晶體	直徑100mm,球面半徑500mm(Si/Ge))	探測(cè)器	SDD探測(cè)器
自動(dòng)樣品輪	16工位

　　一、工作原理

　　X射線近邊吸收譜儀利用光子的能量與物質(zhì)內(nèi)部電子能級(jí)的差異，通過測(cè)量X射線在物質(zhì)中被吸收的能量來分析物質(zhì)的電子結(jié)構(gòu)。在X射線近邊吸收光譜中，每種元素的吸收譜線都具有不同性，這使得我們能夠通過這種技術(shù)來準(zhǔn)確鑒定物質(zhì)中元素的種類和數(shù)量。此外，該技術(shù)還能用于研究物質(zhì)的物理和化學(xué)性質(zhì)，如電子結(jié)構(gòu)的變化、化學(xué)鍵的形成和斷裂等。

　　二、工作特點(diǎn)

　　小型化桌面式系統(tǒng)，易于使用：

　　1.支持近邊快掃功能；

　　2.支持原位測(cè)試等擴(kuò)展功能；

　　3.人體工學(xué)高度設(shè)計(jì)，操作更便捷；

　　4.內(nèi)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)預(yù)置，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量；

　　5.不同樣品、不同測(cè)量模式一鍵自動(dòng)切換；

　　6.遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)傳輸，實(shí)時(shí)顯示實(shí)驗(yàn)進(jìn)程和結(jié)果支持無人值守測(cè)試；

　　7.專業(yè)的應(yīng)用技術(shù)支持和數(shù)據(jù)分析支持；

　　8.儀器具有輻射豁免資質(zhì)和多重安全防護(hù)聯(lián)鎖，保證人身和使用安全。

　　XAFS專用彎晶：

　　1.不同晶面配置齊全，實(shí)現(xiàn)各個(gè)元素覆蓋；

　　2.預(yù)準(zhǔn)直安裝，即插即用；

　　3.可根據(jù)需要元素定制特殊彎晶，達(dá)到最佳性能。

　　三、應(yīng)用領(lǐng)域

　　1.材料科學(xué)：可用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)、元素分布等，為材料的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供重要依據(jù)。

　　2.能源與環(huán)境：可用于研究新能源材料的電子結(jié)構(gòu)、化學(xué)反應(yīng)機(jī)理等，為新能源的開發(fā)和利用提供有力支持。

　　3.生物學(xué)：可用于研究生物大分子的空間構(gòu)象、功能基團(tuán)以及相互作用等，為生物醫(yī)藥研究提供有力支持。

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